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Die Rastersondenmikroskope bieten höchste Flexibilität und eine Vielzahl von Konfigurationsmöglichkeiten.

Das SEM-AFM ist eine Verschmelzung von Rasterelektronenmikroskop und Rastersondenmikroskop. Es wird exclusiv über Carl Zeiss vertrieben.

Wir entwickeln auch spezielle Geräte für Ultrahochvakuumanwendungen, Hochtemperaturmessungen, Nahfeldmessungen, elektrochemische Untersuchungen.