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Das weitaus am meisten verwendete Gerät unter den Rastersondenmikroskopen (Scanning Probe Microscope - SPM) ist das Rasterkraftmikroskop (Atomic Force Microscope - AFM). Durch seine mechanische Abtastung lassen sich nahezu alle Oberflächen damit hochaufgelöst darstellen. Insofern beziehen sich die meisten hier gegebenen Informationen auf Rasterkraftmikroskopie.
Allgemeine Grundlagen zur Rastersondenmikroskopie:
Technische Grundlagen:
Unsere Videos zeigen das Arbeiten mit unterschiedlichen Geräten in den verschiedenen Anwendungsbereichen.
Anwendungsbereiche:
- Der Anwendungsbereich für Rastersondenmikroskope ist sehr vielfältig, so dass wir unterschiedliche Anwendungsbeispiele zusammengetragen haben.
Probenpräparation:
- Eine der wichtigsten und dennoch oft vernachlässigten Arbeiten beim Umgang mit Rasterkraftmikroskopie stellt die Oberflächenpräparation dar: Einflüsse der Oberflächenbelegung auf die Rasterkraftmikroskopie.
Im Vergleich mit Raster-Elektronenmikroskop(REM)-Aufnahmen sehen Rasterkraftmikroskop(AFM)-Aufnahmen oft kontrastlos und langweilig aus, da in AFM-Aufnahmen der Farbwert die echte Höheninformation widerspiegelt, während der Helligkeitswert einer REM-Aufnahme aber so gewählt wird, dass das Bild "gut aussieht".