Controller für AFM-Messungen

Unsere Rastersondenmikroskope benötigen unseren volldigitalen Controller, sowie unsere aktuelle Scan-Software ScanTool™.

C-26 Controller

The specifications of out controller C26 are:

Triple CPU Design, 1x32 MHz, 1x16 MHz, 1 FPGA 80 MHz, für autonome Scans und Echtzeitprozessierung
Feedback: 32 bit interne Auflösung
Volldigitale (PID gefiltert) oder digital/analoge (P gefiltert) Operationen, aktive Q-Kontrolle
Digitale Lock-in basierende AC Detektion, volldigitales AC-Signal, Synthesizer (Q Booster) und Demodulator
Eingebauter automatischer Selftest
Automatische Anpassung der z-Detektor-Verstärkung
Alle Signale sind zugänglich, 8 Kanäle sind gleichzeitig verfügbar
Die AC-Amplitude is wählbar über einen großen Bereich (große Empfindlichkeit bei Automatizierung, einzigartiges Feature)

Die Ausführung des bisherigen Controllers C26 wird an die gewünschten Messungen und Applikationen angepasst. Ein gängiges Zubehörteil ist unser FPGA-basiertes Lock-In Kombinationsgerät DiProWa, das optimal für die Durchführung elektrischer AFM-Messungen, z.B. Kelvin-Probe-Force-Microscopy (KFPM), angepasst ist.

C-32 Controller

Mti der neuen Controllergeneration C32 sind zusätzliche Features verfügbar:

Volldigitales Design mit Zugang zu 33 verschiedenen Messsignalen
Zwei eingebaute 40 MHz Lockin-Amplifier, die zusammen (stacked oder double frequency lock-in) oder getrennt genutzt werden können
Alle Parameter können in vordefinierten Setups gespeichert werden, was das Umschalten zwischen verschiedenen Messmoden mit einem Klick ermöglicht
Z-Modulation mit dediziertem Lockin, welches als Feedbacksignal genutzt werden kann
Kleinere Phaseverschiebung und kürzere Verzögerung bei den analogen Eingängen erlauben eine höhere Verstärkung und somit schnellere Scangeschwindigkeiten
Eingebaute Oszilloskopfunktion mit Spektrumanalyzer
5 externe Eingänge
X/Y/Z-Closedloop-Unterstützung
Bis zu 4096x4096 Bildpunkten in der 64 bit Softwareversion
Kommunikation mit PC via Ethernet
Abwärtskompatibel für alle DME SPM-Scanner
schließt alle Funktionen des DiProWa ein, so das kein zusätzliches Ger&aeuml;t notwendig ist zur Messungen wie Kelvin-Probe-Force-Microscopy (KFPM)