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Die Welt aus Sicht der DME-Instrumente

Im Standardbetriebsmodus werden mit einer feinen Spitze Kräfte gemessen, um eine Oberflächentopographie abzutasten, wie in der Einführung in die Rastersondenmikroskopie beschrieben wird.
Neben einer mechanischen Interaktion kann eine Messspitze aber noch auf viele andere Arten mit einer Oberfläche wechselwirken. Hier gibt es eine Vielzahl verschiedener Messmethoden, wie z.B. MFM (Magnetisierung), SCM (Kapazität), KFM (Potential), SSRM (Widerstand).

Wir wollen hier eine Vielfalt von Anwendungen vorstellen.
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Topographiemessungen an verschiedenen Oberflächen

PZT Keramik, Topographie Oberfläche einer Glaslinse, Topographie HOPG, Topographie HOPG, Höhenprofil
Von links nach rechts: PZT Keramik, Oberfläche einer Glaslinse, Atomlagenstruktur von HOPG (Highly Ordered Pyrolytic Graphite) und Höhenprofil über eine Atomlage

SiC und Graphen-Atomlagen: Topographie SiC und Graphen-Atomlagen: Austrittarbeit
SiC und Graphen-Atomlagen: Topographie (links) und Phasen (rechts) von SiC-Atomlagen wurden leichzeitig gemessen.

Einzelatomar aufgelöste UHV-STM-Aufnahme Nanodots auf carbonisiertem Wolfram Nanodots auf carbonisiertem Wolfram
Von links nach rechts:
Einzelatomar aufgelöste UHV-STM-Aufnahme. Physik, Uni Marburg
Nanodots auf carbonisiertem Wolfram, UHV-STM. Physikalische Chemie, Uni Innsbruck
Nanodots auf carbonisiertem Wolfram, UHV-STM. Physikalische Chemie, Uni Innsbruck

Krebszellen Krebszellen Krebszellen
Krebszellen

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Magnetische Proben

Magnetische Probe, Topographie Magnetische Probe, MFM Magnetische Probe, Topographie Magnetische Probe, MFM
Magnetische Proben: Topographie (jeweils links) und Magnetische Information, MFM, (jeweils rechts) wurden gleichzeitig gemessen. Spezialstahl, Topographie Spezialstahl, MFM
 Spezialstahl: Topographie (links) und Magnetische Information, MFM, (rechts) wurden gleichzeitig gemessen.

Magnetische Nanopartikel, MFM Nanostrukturierte magnetische Schicht Festplatte
Links: Magnetische Nanopartikel verschiedener Magnetisierung: Topographie und Magnetische Information, MFM, wurden gleichzeitig gemessen. Farbe: Magnetisierung, 3D Struktur: Topographie
Mitte: Nanostrukturierte magnetische Schicht, DS95-50, Farbe: magnetische Information
Rechts: Magnetische Information einer Festplatte

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Elektrische Eigenschaften

Nanopartikel auf Silizium, Topographie Nanopartikel auf Silizium, Austrittsarbeit
Nanopartikel auf Silizium: Topographie (links) und Austrittsarbeit (rechts) wurden gleichzeitig gemessen.


Multilayerkondensator: Topographie (links) und Austrittsarbeit (mitte) wurden gleichzeitig gemessen.

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Optische Nahfeldmikroskopie (SNOM)

SNOM SNOM
Photolumineszenzmessungen an optischen Halbleitern, Institut für Angewandte Physik, Technische Universität Braunschweig

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Lithographie

Lithographie Lithographie
Mit einem Rastersondenmikroskop lassen sich nicht nur Informationen ermitteln sondern auch Informationen auf eine Probe aufprägen.

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